"标准样品台：1套；
常规样品架：≥120片样品架；
无背低反射样品架 4套
多样品台
可
平行光附件
配备多层膜反射镜,进行平行光测试、平行度小于0.026°
散射单元
1 小角散射模块
2 小角散射专用软件：可进行粒径分析、胶体和乳浊液的分散度分析、长周期分析、孔径解析、聚合物等进行测试等。
3 测量角度：£ 0.01°
4 高精度马达自动控制Z样品台；-9mm-1mm,步长：0.001mm
正版数据库，软件；"

能完成粉末样品、固体样品的物相分析，薄膜样品的测试，同时可以完成对纳米材料完整性分析，主要包括探究粉体材料的组分、纳米材料的粒径、纳米材料的型貌，纳米材料应变状态分析，倒易空间maping，同时还能兼顾综合试验平台所有老师研究的实验样品。

"最大输出功率：≥3kW，额定电压：≥60kV；额定电流：≥60mA。
X射线光管部分：焦斑大小：≤0.4×12mm。电流电压稳定度：优于0.001% (外电压波动10%时)；
探测器
高速计数器
线性范围：700,000cps 或以上，最大背景： 0.4cps
一维探测器
有效探测器面积: ≥256mm2
最大计数率： 2 x 1013（全探测器）
99%线性范围： 3 x 1011（全探测器）
提供的探测器需适合小角和广角测试，小角最小从0.3度开始
扫描方式：θ/θ方式；步进 马达驱动+光学编码器；
2θ转动范围：-110°~168°；
最小步进：≤0.0001°；