(通用)纳米粒度-Zeta电位测定仪

[ 基础信息 ]
生产国家 : 英国
制造厂商 : Malvern
购置日期 : 2017-10-18
规格型号 : Nano ZSE
[ 分类信息 ]
设备类型 : 2微区分析, 5性能分析
设备编号 : 20170265aa
[ 联系信息 ]
联系人 : 赵志慧
存放地址 : Array223
联系电话 : 13326395854
联系邮箱 : zzh_0904@163.com
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :

1. 高稳定性He-Ne激光器
2. 激光能量调整:自动,调节范围:100%-0.0003%
3. 采用APD检测器,超高灵敏度,量子效率QE高于60%;
4. 粒度:可以通过两个角度检测颗粒物团聚指数,可以检测颗粒物相互作用力因子kD
5. Zeta:迁移率:> +/- 20 μ.cm/V.s;采用高频快场+低频慢场测量技术,无需校准样品池,完全克服电渗影响;采用最新PALS相位分析技术,可检测高盐低盐浓度;采用弯曲式毛细管流动池,避免交叉污染。

主要功能及特色 :

1. 独有的“NIBS”技术可以实现高浓度溶液的粒度测量,测量数据更精确;
2. 测试纳米级样品的粒径及粒径分布系数;
3. 测试纳米级样品的电位。
4. 测试聚合物的绝对分子量。

主要规格及技术指标 :

1. 温度控制范围:0-90度,精度+/- 0.1度。
2. 粒度:检测范围:0.3-10000nm;单角度测量浓度:0.1ppm-40%w/v;最小样品量 12μL。
3. ZETA电位:适合检测粒度范围:3.8nm-100um;zeta电位范围:无实际限制;最小样品量 20 μL。

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[ 开放机时安排 ]
[ 参考收费标准 ]