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基于核心成像模式（接触模式和轻敲模式），布鲁克提供的全套 AFM测试模式，允许用户探测样品的电学、磁性等丰富性能。布鲁克独创的全新的峰值力轻敲技术作为一种新的核心成像模式，已被应用到多种测量模式中，能同时提供形貌、电学和力学性能数据。

Dimension® Icon™优秀的分辨率，与 Bruker 特有的电子扫描算法相结合，显著提升了测量速度与质量。Dimension® Icon™是针尖扫描技术的最新革新，一直处于领先地位。该系统配置温度补偿位置传感器，实现了 Z 轴亚埃级和 XY 轴埃级的低噪音水平，将这个性能应用在 90 微米扫描范围、大样品台系统上，效果甚至超过高分辨率原子力显微镜的开环噪音水平。XYZ 闭环扫描头的新设计使仪器在较高扫描速度工作时，图像质量也不会被损坏，实现了更大的数据采集输出量。配置Bruker 专利的PeakForce®技术，Dimension Icon可实现智能获取高分辨图像。