[ 基础信息 ]
生产国家 : 美国
制造厂商 : 美国FEI
购置日期 : 2020-10-30
规格型号 : Quanta250 FEG
[ 分类信息 ]
设备类型 : 2微区分析
设备编号 : 20180681aa
[ 联系信息 ]
联系人 : 龙晓静, 王彬彬
存放地址 : Array113
联系电话 : 17863979826
联系邮箱 :
[ 附加信息 ]
主要附件及配置 :
EDS能谱
主要功能及特色 :
"1、可以观察和检测非均相有机材料、无机材料及在上述微米、纳米级样品的表面特征。
2、具备超高分辨扫描图像观察能力，尤其是采用最新数字化图像处理技术，提供高倍数、高分辨扫描图像。
3、X射线能量散射谱可定量定性分析样品元素。
4、元素分布像，用于显示元素二维分布，适合膜样品截面，析出相，纳米粒子组装等。
主要规格及技术指标 :
"1、分辨率：
二次电子:
高真空模式 1.0nm @ 30kV; 3.0nm @ 1kV
高真空减速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V 低真空模式 1.4nm @ 30kV; 3.0nm @ 3kV
环境真空模式 1.4nm @ 30kV
背散射电子:
高真空和低真空模式: 2.5nm @ 30kV
扫描透射STEM探测器:
0.8nm @ 30kV
2、加速电压 200V ～ 30kV, 连续可调
3、高稳定性Schottky场发射电子枪
4、最大束流 200nA
5、样品室压力最高达4000Pa
6、样品台移动范围
Quanta 250 FEG: X=Y=50mm
Quanta 450 FEG: X=Y=100mm
Quanta 650 FEG: X=Y=150mm
